http://www.dzsc.com/data/html/2008-12-23/75397.html
JTAG测试信号由下面5个信号组成。
TRST：测试复位输入信号，测试接口初始化
TCK：测试时钟，在TCK时钟的同步作用下，通过TDI和TDO引脚串行移入／移出数据或指令；同时，也为TAP（测试访问端口）控制器的状态机提供时钟。
TMS：测试模式选择信号，控制测试接口状态机的操作。
TDI：测试数据输入线，其串行输入数据至边界扫描寄存器或指令寄存器（由TAP控制器的当前状态及己保存在指令寄存器中的指令来控制）。
TDO：测试数据输出线，把从边界扫描链采样的数据传输至串行测试电路中的下一个芯片。
JTAG可以对同一块电路板上多块芯片进行测试。TRST、TCK和TMS信号并行至各个芯片，而一块芯片的TDO接至下一芯片的TDI。JTAG的时序图如图所示。