DFT测试中,最重要的部分还是sequential circuit的内部状态的测试。

起初ad hoc的方法用来提高testability,可以提高局部的coverage,但并不是一个系统性的方法。

structure的DFT方法,scan design被提出。

ah hoc的方法主要是利用一些guide line和practice的经验来replacing bad design,主要的技术有:

1)insert test point;

2)avoid async set/reset for storage elements;

3)avoid combinational feedback;

4)avoid redundant logic;

5)avoid async logic;

6)partition a large circuit into small blocks;

Test point insertion(TPI):首先通过testability analysis的方法来得到internal nodes。

observation point insert:SE=0,capture result;SE=1,shift result;

DFT basics-LMLPHP

control point insert:TM=0;destination = source;TM=1;destination = CP_input

DFT basics-LMLPHP

scan point:由一个control point和一个observation point组成。

加入test point会增加logic path的delay。

test points可以由多个internal nodes来共用,从而减少area。

Structure DFT:

通过将sequential design转变为scan design,有三种工作模式:

1)normal mode,所有的test signal都turn off;

2)shift mode和capture mode下,test mode signal一直有效;

设计流程:

1)将选择到的storage elements转变为scan cell;

2)将这些cell,stitching为一个scan chains;

执行流程:

1)switch到shift mode,将stimulus输入到scan cell中;

2)switch到capture mode,输入clock,capture value;

3)switch到shift mode,移出response;

05-02 12:30