问题描述
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
package 蓝桥杯VIP;
import java.util.Scanner;
public class 芯片测试 {
// 这个題其实关键的解题就一个，
// 只要其他的芯片对一个芯片的判断结果是1的个数大于0的个数，
// 就可以判断这个是一个好芯片。为什么呢？因为题目中说了，
// 其中坏的芯片的判断是随即的要不是1要不是0，
// 所以对一个好的芯片（被检测）的判断而言，
// 用坏的去判断（检测方）这个好的，显示1和显示0的概率都是50%，
// 而如果还有一个好的芯片（检测方）也去判断这个好的芯片（被检测），
// 这个结果一定是1，所以这个显示1的总数一定会大于显示0的个数。
public static void main(String[] args) {
Scanner sc = new Scanner(System.in);
int n = sc.nextInt();
int m[][] = new int[20][20];
for (int i = 0; i < n; i++) {
for (int j = 0; j < n; j++) {
m[i][j] = sc.nextInt();
}
}
sc.close();
for (int j = 0; j < n; j++) {
int ref = 0;
for (int i = 0; i < n; i++) {
if (i != j)
ref += m[i][j];
}
if (ref >= n / 2) {
System.out.print((j + 1) + " ");
}
}
}
}
原文：https://blog.csdn.net/qq_33430445/article/details/79158349