基础练习 芯片测试
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问题描述
有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。
输入格式
输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
输出格式
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号
样例输入
3
1 0 1
0 1 0
1 0 1
1 0 1
0 1 0
1 0 1
样例输出
1 3
题目解析：
题目中的关键的句子：
（1）用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
（2）表中的每个数据为 0 或 1 ，在这 n 行中的第 i 行第 j 列（1 ≤ i, j ≤ n）的数据表示用第 i 块芯片测试第 j 块芯片时得到的测试结果，1 表示好，0 表示坏，i = j 时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。
因此，我们遍历列来找出自身和其他芯片检测结果为好的次数，若次数过半，则就是好芯片。
根据题目给出的样例输入：
第一列（从 1 开始）：
a[1][1] 第 1 个芯片检测第 1 个芯片，即自己检测自己，结果必为 1，count 加 1
a[2][1] 第 2 个芯片检测第 1 个芯片，结果必为 0
a[3][1] 第 3 个芯片检测第 1 个芯片，，结果必为 1，count 加 1
count = 2 > 3 （芯片的总数）
所以，得出结论：第一个为好芯片。
示例代码：
import java.io.BufferedReader;
import java.io.IOException;
import java.io.InputStreamReader; public class Main {
public static void main(String[] args) throws IOException {
BufferedReader br = new BufferedReader(new InputStreamReader(System.in));
String s = br.readLine();
int n = Integer.parseInt(s);
int[][] a = new int[n][n]; for(int i = 0 ; i < n; i++){
String[] str = br.readLine().split(" +");
for(int j = 0; j < n; j++){
a[i][j] = Integer.parseInt(str[j]);
}
} for(int i = 0 ; i < n ; i++){
int count = 0; //记录芯片检测结果为好的次数
for(int j = 0 ; j < n ; j++){
if(a[j][i] == 1) //查看列，如果发现测试结果为1，则count加1
count++;
}
if(count > n/2) //遵循少数服从多数原则，若其他芯片对“我”检测结果为好的次数过半，则证明“我”是好的
System.out.print(i+1+" ");
}
}
}