我正在校准工业 AVT 相机。可以吗，当我聚焦在我将使用 f/4 光圈进行测量的平面上，然后将光圈关闭到 f/16，校准相机的内部参数，然后将光圈打开到 f/4 时，可以吗？校准会随着光圈的变化而变化吗？我知道没有任何参数(焦距、主点、镜头)应该发生物理变化，但是没有影响吗？
我没有改变焦点(焦距)。由于校准期间景深更大，测量期间相机速度更快，我需要更改光圈。
最佳答案
我认为简短的回答是:不，不是。
不同孔径下的校准应该相同(在实验范围内)。光圈只影响景深和进入相机的光量。焦距、主点、镜头失真等不会改变 - 尽管您准确测量它们的能力可能会受到您获得的图像质量的影响。
也许理论上更大的光圈可以捕捉到更好的镜头畸变近似值，虽然 reading this article 让我怀疑我自己的话，但如果你在大光圈下校准，然后在小光圈下捕捉，这应该不是问题。只有当您的镜头严重变形时才会出现问题(恕我直言)。链接的文章是这样说的:
在不同的光圈设置下执行相机校准并查看结果是否相似，这大概是一个简单的过程。当然，我知道无法从相机校准矩阵中推断出光圈设置，这意味着该信息本身并没有被捕获。
关于opencv - 光圈的变化是否会影响相机校准？，我们在Stack Overflow上找到一个类似的问题：https://stackoverflow.com/questions/24299872/