scan cell有两种不同的input：
1)data input：由电路的combinational logic驱动；
2)scan input：由另一个scan cell驱动，从而形成scan chain；
在normal/capture mode下，data input来驱动output；
在shift mode下，scan input来驱动output；
几种scan_cell：muxed-D scan，clockd-scan，level-sensitive scan design(LSSD)；
muxed-D Scan cell：多指edge_triggered muxed-D scan cell，由一个D flip-flop和一个multiplexer组成，
scan enable(SE)用来选择data input和scan input的输入。
一个level-sensitive的muxed-D scan cell，由一个multiplexer，一个D Latch，一个D FF。
来用替代一个普通的latch
Clocked-scan cell：
也主要用来替代D-FF，不过是通过两个独立的clk来进行选择，
一个data clock DCK；一个shift clock SCK；
主要的优势是不会对data path的timing造成影响，但是要求多一个clock的routing。
LSSD scan cell：
主要是应用在level_sensitive，latch-based design中。
cell包含两个latch，一个master latch，一个slave latch。
其中A/B/D均为clock，D为data input，I为scan input。
优点是可以保证race-free，但是同样会增加clock的routing。
scan architecture
1)full-scan design：所有的storage element都转变为scan cell，combinational ATPG来生成test；
主要的优点是将sequential的ATPG转变为简单的combinational ATPG；
almost full-scan design：在某些critical path和insignificant path上不加入scan。
Muxed-D Full-Scan Design:
Clocked Full-Scan Design：与Muxed-D类似，只是不再使用SE，分别使用两个clock。
LSSD Full-Scan Design:两个时钟C1/C2，A/B来控制shift和capture两种mode。
在full-scan的logic中，输入由两种：
primary input(PI)，电路的external input；
pseudo primary input(PPI)，scan cell的output
两种输出：
primary output(PO)，电路的external output；
pseudo primary output(PPO)，scan cell的input；
2)partial-scan design：部分的storage element转变为scan cell，combination和sequential ATPG来生成test；
在test的生成过程中，sequential的ATPG必须包含non-scan的FF的control和observe，这会增加test generation的
复杂性，所以一般将逻辑分开，可以根据functional partition，pipeline/feed_forward partial design.
Full-scan,partitial-scan都被定义为serial scan design，优点是routing的成本会比较低，缺点是每一个单独的scan-cell不能
在不影响本scan chain的其他cell的前提下，完成shift mode，造成high switchingde power消耗。
Random-access scan通过类似RAM似的地址寻址的方式来完成一个cell的shift mode。
3)random-access scan design：不用serial scan chain，使用random addressing的机制；
Scan cell的Q端与下一级的Scan cell的SI端直接连接起来。同时另一个load到combinational logic中。
在capture过程中，必须控制clock的个数，保证ATPG生成的reponse是正确的。
每一条scan chain中的激励和响应的reg的位置并不是对应的。根据ATPG生成的为准。